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技術干貨 | 半導體器件失效分析的高效診斷技術——IV曲線測試
原創
2024-08-22 17:00:00
技術文章
作者： SGS_SEMI
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IV曲線測試，是一種重要的電子元器件性能評估方法，廣泛應用于半導體行業，尤其在集成電路失效分析中發揮著重要作用。它可以用于測試各種類型的半導體器件，例如IC芯片、二極管、晶體管、MOS管、被動元器件等。通過IV曲線測試，我們可以快速篩選出不良品，提高產品的質量和可靠性。
IV曲線測試原理
IV曲線測試，即電流-電壓特性曲線測試，基于歐姆定律，通過測量不同電壓和電流下的電流和電壓值，繪制出電流與電壓之間的關系曲線。這種測試可以快速揭示器件的電性失效模式，如短路、斷路、漏電和高阻等異常情況，為后續失效分析提供重要的數據參考。
如何進行IV curve曲線測試？
（ 1 ）選擇測試設備
使用KEITHLEY 2636B數字電源/ Keysight B1500A和Probe探針臺搭配對失效器件進行腳位連接測試。
2636B數字電源
Probe探針臺
（ 2 ）確認測試條件
在測試前，確認失效器件規格書、Pin腳定義圖、待測腳位限壓限流值、電壓步進Step。
（ 3 ）數據處理與分析
測試結束后，對采集到的電流和電壓數據進行處理和分析，繪制出IV特性曲線。通過曲線可以直觀地觀察到失效器件在不同電流和電壓下的性能表現。
IV curve曲線測試作用
IV Curve曲線測試在失效分析中主要對失效器件進行電性能測試及電性復現，通過與正常器件的IV曲線對比，可以發現失效器件的電性差異，從而確定失效的具體模式。
常見的電性失效模式
- 短路
指電路中的電阻減小，導致電流突然變大，從而改變電流路徑，可能導致設備或系統的功能異?；驌p壞。
測試示意圖
- 斷路
指電子元器件失去導電能力，導致電流無法通過，從而使元器件失去功能。
測試示意圖
- 漏電
指電子元器件在特定條件下出現電流泄漏現象，超出正常工作范圍，可能導致設備性能下降或失效。
測試示意圖
- 高阻
指電子元器件或電路中存在高阻態現象，即某個節點或元件表現出相對較高的阻抗狀態，導致電流難以通過。
測試示意圖
SGS擁有專業的失效分析團隊和先進的測試設備，能夠提供全面的電子元器件失效分析服務，助您優化產品設計，保障產品質量，提升產品競爭力。
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