SEMI F21潔凈室空降分子污染(AMC)分析
確保您的潔凈室制程車間沒有污染
在半導體制程中,光刻工藝是核心環節,而光刻膠與光刻機則是光刻工藝中的兩大技術門檻。盡管國內設備廠商正在努力研發,但目前大部分光刻機技術仍依賴于國外品牌。光刻機在市場上非常搶手,但即便擁有光刻機,也不能隨意在FAB(晶圓廠)中擺放。
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光刻機為什么不能隨意擺放?
光刻機的精密操作對環境潔凈度有著近乎苛刻的要求。光刻機在進行光刻工藝時,對環境中的分子污染物(AMC)極其敏感。即使是微小的雜質,也可能對光刻過程造成嚴重影響。
以荷蘭某大廠的光刻機為例,就明確要求安裝光刻機的廠商在其環境與使用的壓縮氣體中不能含有酸性物質、堿性物質、氨氣、硫化物、沉降型有機物質與非沉降型有機物質等雜質。
在SEMI F21無塵室環境分子污染物分級標準中,也明確規定了酸性物質、堿性物質、沉降型有機物質、參雜性物質與金屬顆粒等雜質的控制要求。同時,ISO14644潔凈室和相關受控環境潔凈室標準中的第8部分,更是用化學濃度(ACC)來評估空氣清潔度,從而規范了潔凈室中這些氣態雜質對制程的影響性。
隨著半導體晶圓越來越微小化和平面顯示器尺寸巨大化,制程產品正面臨微量污染物的嚴重威脅。因此,對于無塵室生產環境的潔凈度要求也越來越嚴格和重要。雖然目前AMC(空氣分子污染物)的污染濃度并未與潔凈室等級形成直接關系,但其對制程的影響卻是不容忽視的。
如何進行潔凈室AMC測試?
在潔凈室AMC(空氣污染物控制)測試中,通常使用空氣采樣器和氣相色譜質譜儀等儀器進行分析和測量。常見的潔凈室AMC污染物包括有機化合物、氣體污染物(如氮氧化物、硫化物)和有害氣體(如臭氧)。測試結果可以與行業標準和規范進行比較,以確定是否符合要求。因此,潔凈室AMC測試是潔凈室管理中的重要一環,有助于確保潔凈室環境的全面控制和達到所需的潔凈度水平。
AMC的種類有哪些?

如何解決潔凈室空氣質量問題?
SGS提供多種潔凈室AMC檢測服務模式:
SGS潔凈室AMC檢測服務項目:
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