干貨分享 | 光電子半導(dǎo)體市場新趨勢：AEC Q102認(rèn)證等級要求不斷提升！

附加測試建議
RV-level 1 & 2是僅用于魯棒性評估的附加測試。通過AEC Q102表2中定義的測試（RV-level 0）已經(jīng)可以認(rèn)為光電子半導(dǎo)體器件符合AEC Q102標(biāo)準(zhǔn)。
特別是對于RV-level 1 & 2，強(qiáng)烈建議通過過應(yīng)力測試來確定失效模式和加速參數(shù)。以下測試基于SAE/USCAR-33推薦：

• 高溫工作壽命
  • 結(jié)溫Tj = 最大規(guī)定Tj +15°C （對于功率低于1W的低功率和中等功率LED，為Tj +30°C）
  • 正向電流IF = 1.25倍最大規(guī)定IF （對于功率低于1W的低功率和中等功率LED，為1.5倍）
• 高濕度與溫度工作壽命
  • 環(huán)境條件：85°C，85%相對濕度
  • 正向電流IF = 1.25倍最大規(guī)定IF （對于功率低于1W的低功率和中等功率LED，為1.5倍）
• 功率溫度循環(huán)
  • 溫度范圍TS = -40°C 至 125°C
  • 每個溫度保持10分鐘，轉(zhuǎn)換時間20分鐘
  • 每次通電/斷電2分鐘
  • 正向電流IF = 1.3倍最大規(guī)定IF （對于功率低于1W的低功率和中等功率LED，為1.5倍）
• 溫度沖擊
  • 溫度：-55°C/150°C
  • 每個溫度保持15分鐘，轉(zhuǎn)換時間小于10秒

樣本大小： 78個器件（分為3批，每批26個器件）
應(yīng)力持續(xù)時間： 直到50%的樣本失效，最長1500小時/循環(huán)
按照AEC-Q102進(jìn)行預(yù)處理，并執(zhí)行應(yīng)力測試前后的光電參數(shù)測試。
對于失效判定，應(yīng)遵循AEC-Q102判定標(biāo)準(zhǔn)。
對于每個測試，應(yīng)對2個 (失效的) 器件進(jìn)行破壞性物理分析 (DPA)。

目前，越來越多的廠商已經(jīng)不再僅僅局限于常規(guī)的AEC Q102測試認(rèn)證，而是對光電子器件的魯棒性等級提出了更高的要求，以適應(yīng)市場和消費(fèi)者的需求。SGS擁有全套AEC Q102的測試認(rèn)證能力，并提供更高RV-level的測試服務(wù)，致力于為客戶的光電子器件提供全方位的可靠性保障，助力產(chǎn)品在全球市場上脫穎而出。