購物車（
0
）
半導體一站式解決方案
半導體物理&化學測試
5.2H-A061展位 | SGS邀您共聚CIIF 2025中國工博會集成電路展區
原創
2025-09-10 17:06:00
展會及研討會
作者： SGS_SEMI
訪問次數： 824
點贊： {{ Likes }}
2025年9月23日至27日，第25屆中國國際工業博覽會（CIIF）將在國家會展中心（上海）盛大啟幕。作為中國工業領域面向全球的頂級展會，本屆工博會展覽面積突破30萬平方米，吸引全球32個國家和地區的3,000+家企業參展。其中，首次特設的集成電路專區成為焦點，位于5.2號館核心區域，覆蓋芯片設計、制造封測、EDA/IP工具、設備材料等全產業鏈。
SGS作為國際公認的測試、檢驗和認證機構受邀參展（展位號5.2H-A061），并于展會期間發表題為“半導體元器件產業鏈檢測認證整體解決方案”的主題演講，為現場參展企業及采購商群體提供專業、全面的半導體一站式解決方案。SGS誠邀您的蒞臨，就相關檢測、認證解決方案進行探討交流，竭誠為您提供專業服務。
展會信息
時間：2025年9月23-27日
地點：國家會展中心（上海）5.2Hall
展位號：5.2H-A061
演講信息
時間：2025年9月25日 上午
地點：5.2號館論壇B區
演講主題：半導體元器件產業鏈檢測認證整體解決方案
SGS服務亮點搶先看
■ 認證系列
- 車規級芯片認證AEC-Q100
- 車規級功率器件認證AEC-Q101
- 車規級光電器件認證AEC-Q102
- 車規級多芯片模組認證AEC-Q104
- 汽車功率模組認證AQG 324
- 隔離器件認證UL 1577/ VDE 0884/ IEC 60747-17
- 功能安全認證
- 網絡安全認證
■ 一站式服務
- 綜合失效分析
- 芯片ESD測試
- 芯片FA失效分析
- 芯片RA測試
- 芯片EMC測試
- 材料MA分析
■ 超痕量分析服務
- 材料的釋氣(Materia/Outgassing)
- 超純水(UPW)檢測
- 硅片表面金屬及無塵用品清潔度分析(Cleanliness)
- 氣態分子污染物監測(AMC)
- 化學試劑檢測分析(Chemical)
- 設備系統壓縮空氣檢測分析(CDA)
- 大宗氣體和特殊氣體的檢測分析(Bulk/Special Gas)
- 潔凈室等級評估(Cleanroom)
- 設備動態潔凈度測試(Equipment)
本文著作權歸SGS所有，商業轉載請聯系獲得正式授權，非商業請注明出處
相關服務：
相關內容：
- 合作案例 | SGS為開陽電子頒發ISO 26262功能安全產品認證證書
- 展會速遞 | SGS亮相HKPCA 2025國際電子電路展
- B3190展位 | SGS邀您共聚廈門國際半導體及集成電路博覽會
- 干貨分享 | PCB為何“時好時壞”？探秘CAF引發的間歇性短路之謎
- 干貨分享 | 告別焊點失效：AEC-Q007標準下的BLR測試全解析
- SGS受邀出席第十九屆全國離子色譜學術報告會并發表專題報告
- 合作案例 | SGS授予科百特QTL認可實驗室資質
- 7E05展位 | SGS邀您共聚HKPCA 2025國際電子電路展
- 合作案例 | SGS授予應達利AEC-Q100&AEC-Q200認證證書
- 干貨分享 | 從硅的極致純度到晶片表面“零污染”：半導體制造的潔凈之戰
